СПРАВОЧНО-ИНФОРМАЦИОННАЯ СИСТЕМА классификаторы
поставщики
производители
статьи
заявка
поиск
Тематические выпуски/статьи
E-mail Забыли пароль?
Регистрация
Пароль
   

Новости

25 июля 2011

Материал, восстанавливающий свою форму после снятия нагрузки, может пригодиться при возведении сейсмостойких зданий, утверждают японские учёные. Основным ... >

20 июля 2011

Исследователи из США предложили новый тип белкового сенсора на базе флуоресцентных одностенных углеродных нанотрубок и белковых микрочипов. Крошечное устройство ... >

Архив новостей »


Тематические выпуски/статьи


Динамическая Натурная Электронная Микроскопия как Инструмент Решения Проблем Наномира

22/09/09

Динамическая Натурная Электронная Микроскопия как Инструмент Решения Проблем Наномира

По материалам семинара Национального Научного Фонда США

В настоящее время масштаб структур технологических материалов уменьшается быстрыми темпами. Трансмиссионная Электронная Микроскопия (ТЭМ) и связанные с ней методики являются основными инструментами исследования и описания характеристик наномира. Благодаря последним достижениям в дизайне инструментов и дополнительного оборудования стали возможны натурные синтез, характеристика и измерение свойств активных материалов в наномасштабе посредством технологии ТЭМ.

В данном материале мы используем термин .натурная ТЭМ. применительно к экспериментам, в которых к образцу, который исследуется в ТЭМ, применяется стимулирующее воздействие в той или иной форме. Далее мы остановимся на характеристике современных и будущих исследовательских программ, в которых натурное наблюдение динамических процессов дает более глубокое понимание синтеза и свойств наноматериалов и позволяет более тонко ими управлять.

Масштабные Задачи :

1. Расширить технологию натурной ТЭМ до функциональности Молекулярной Обсерватории для синтеза и наблюдения активных наноструктур.

Наше понимание синтеза и рабочих механизмов, вообще говоря, ограничено нашей неспособностью анализировать процессы на поверхности и внутри наноструктур. Дополнение натурной ТЭМ соответствующими технологиями анализа существенно расширит информацию о ключевых фазах реакций и процессов.

2. Разработать (сверх) быстрые детекторы визуализации, которые обеспечат режим скоростного наблюдения за процессами в активных наноструктурах в масштабе атомных размеров.

Современное разрешение в 1/60 секунды недостаточно для наблюдения динамических промежуточных структурных и химических изменений, происходящих при синтезе и работе активных наноструктур...

Полный текст (160.82K)

© ФГУП «ВО «Внештехника»
главная | классификаторы | поставщики | производители | тематические выпуски/статьи | заявка | поиск