Новости

Тематические выпуски/статьи

Электронная Микроскопия. Важнейший Инструмент Нанотехнологий

25/12/08

Руководство ФГУП "ВО "Внештехника" и редакционный совет тематического технологического бюллетеня предлагают вашему вниманию первый, Сентябрьский, выпуск, посвященный современным технологиям анализа и визуализации в электронной микроскопии. Восприятие материалов тематических бюллетеней, адресованных широкому кругу заинтересованных экспертов и специалистов по реализации проектов НИОКР, не требует специальной технической подготовки. Мы рассчитываем на то, что справочно-информационная система и тематические бюллетени станут эффективной площадкой для сотрудничества с ведущими производителями инструментов НИОКР, что отвечало бы интересам всего экспертного сообщества.

Важнейшими источниками экспертизы в области технологий и средств анализа и визуализации являются научно-исследовательские и инженерные лаборатории производителей инструментов электронной микроскопии. На российском рынке они представлены рядом зарубежных компаний, включая Carl Zeiss AG, FEI Company, Hitachi High-Technologies Corporation, JEOL Ltd., производящих и поставляющих оборудование, представляющее все классы электронных микроскопов - сканирующие, трансмиссионные и сканирующие трансмиссионные. А также . Selmi OAO (г. Сумы, Украина), Shimadzu Corporation и Tescan s.r.o, с их сканирующими электронными микроскопами.

В рамках бюллетеня, наряду с обзорными статьями, мы предлагаем ряд материалов по современным технологиям и методам электронной микроскопии компаний Carl Zeiss AG, FEI Company и JEOL Ltd.


Электронная Микроскопия. Важнейший Инструмент Нанотехнологий

(Jan Ringnalda, FEI Company, Hillsboro, Ore. (http://www.smalltimes.com/worldinbriefs/special_feature.cfm)

Электронная микроскопия включает в себя три технологических разновидности . сканирующая электронная микроскопия (СЭМ, SEM), трансмиссионная электронная микроскопия (ТЭМ, TEM) и сканирующая трансмиссионная электронная микроскопия (СТЭМ, STEM). Термин С/ТЭМ объединяет два вида трансмиссионной электронной микроскопии - ТЭМ и СТЭМ...