СПРАВОЧНО-ИНФОРМАЦИОННАЯ СИСТЕМА классификаторы
 		поставщики
 		производители
 		статьи
 		заявка
 		поиск
FEI Company
E-mail Забыли пароль?
Регистрация
Пароль
   

Новости

25 июля 2011

Материал, восстанавливающий свою форму после снятия нагрузки, может пригодиться при возведении сейсмостойких зданий, утверждают японские учёные. Основным ... >

20 июля 2011

Исследователи из США предложили новый тип белкового сенсора на базе флуоресцентных одностенных углеродных нанотрубок и белковых микрочипов. Крошечное устройство ... >

Архив новостей »

Производители


Вернуться

Наименование: FEI Company
Производитель: да
Поставщик: нет
Страна: США
Адрес: Главный офис:
North America NanoPort
5350 NE Dawson Creek Drive
Hillsboro, Oregon 97124 USA
Phone: +1 (503) 726-7500

Российское представительство:
119333, Россия, г. Москва,
Ленинский проспект, 59, офис109
Телефон: (495) 626-58-99
Факс: (495) 933-43-17
E-mail: microscop@microscop.ru
Сайт:www.fei.com
Является филиалом: нет
Рентгеновский микроанализатор для электронного микроскопа Genesis 7000 XMS 600 SEM FEI Company
Рентгеновский микроанализатор для электронного микроскопа Genesis 7000 XMS 300 SEM FEI Company
Рентгеновский микроанализатор для электронного микроскопа Genesis 4000 XMS 30 SEM FEI Company
Ионная мельница Model 1010 Ion Mill FEI Company
Устройство для перфорирования образцов Model 130 Specimen Punch FEI Company
Оже-нанозонд PHI 700 FEI Company
Времяпролетный масс-спектрометр вторичных ионов PHI TRIFT V nanoTOF FEI Company
Микрозонд для фотоэлектронной спектроскопии PHI 5000 VersaProbe FEI Company
Просвечивающие электронные микроскопы Tecnai G2 30F U-TWIN STEM FEI Company
Микрозонд для фотоэлектронной спектроскопии PHI Quantera FEI Company
Просвечивающие электронные микроскопы Tecnai G2 20F U-TWIN STEM FEI Company
Просвечивающие электронные микроскопы Tecnai G2 30F S-TWIN FA FEI Company
Ионные микроскопы, системы Nova NanoLab Nova 600 FEI Company
Просвечивающие электронные микроскопы Tecnai G2 12 TWIN FEI Company
Ионные микроскопы, системы Strata FIB 201 FEI Company
Сканирующие электронные микроскопы Quanta 3D FEI Company
Сканирующие электронные микроскопы Quanta 400 FEG FEI Company
Сканирующие электронные микроскопы Quanta 200HV FEI Company
Сканирующие электронные микроскопы Quanta 200 FEI Company
Сканирующие электронные микроскопы Quanta 200 FEG FEI Company
Рентгеновский микроанализатор для электронного микроскопа LambdaSpec FEI Company
Рентгеновский микроанализатор для электронного микроскопа Genesis 4000 XMS 60 SEM FEI Company
Рентгеновский микроанализатор для электронного микроскопа Genesis 2000 XMS 30 SEM FEI Company
Рентгеновский микроанализатор для электронного микроскопа Genesis 2000 XMS 60 SEM FEI Company
Устройство для шлифовки образцов Model 160 Specimen Grinder FEI Company
Устройство для перфорирования образцов Model 170 Ultrasonic Disk Cutter FEI Company
Устройство для вышлифовки ямок Model 200 Dimpling Grinder FEI Company
Квадрупольный масс-спектрометр вторичных ионов PHI ADEPT - 1010 D - SIMS FEI Company
Просвечивающие электронные микроскопы Tecnai G2 30F S-TWIN STEM FEI Company
Просвечивающие электронные микроскопы Tecnai Morgagni 268 FEI Company
Просвечивающие электронные микроскопы Tecnai G2 20F S-TWIN FEI Company
Просвечивающие электронные микроскопы Tecnai G2 20F Cryo FEI Company
Ионные микроскопы, системы Strata FIB 205 FEI Company
Ионные микроскопы, системы Nova NanoLab Nova 200 FEI Company
Сканирующие электронные микроскопы Quanta 600 FEI Company
Сканирующие электронные микроскопы Quanta 600 FEG FEI Company
Сканирующие электронные микроскопы Quanta 400 FEI Company

© ФГУП «ВО «Внештехника»
главная | классификаторы | поставщики | производители | тематические выпуски/статьи | заявка | поиск